詳細介紹 μCMM納米級光學三次元索取 μCMM 型錄特性 Feature規(guī)格 Specification應用 ApplicationsFEATURESµCMM 奈米級光學三次元µCMM是臺純光學CMM機床,用于高精度測量極小的公差。用戶結合了觸覺坐標測量技術和光學表面測量技術的優(yōu)勢,僅使用一個傳感器即可測量組件的尺寸,位置,形狀和粗糙度。光學CMM可以提供相對于彼此的多個光學3D測量結果的高幾何精度,從而可以對大型組件上的小表面細節(jié)進行測量,并可以精確地確定這些單獨的測量結果相對于彼此的位置。可測量表面的范圍包括所有常見的工業(yè)材料和復合材料,例如塑料,PCD,CFRP,陶瓷,鉻,硅。一鍵式解決方案實現了簡單的操作,自動化和人體工程學控制元素,例如專門設計的控制器。帶有直線驅動器的空氣軸承軸可實現無磨損使用以及高精度,快速的測量。直觀的可用性,專為多個用戶而設計可測量表面的光譜在很大程度上與材料無關,包括從啞光到拋光或鏡面反射的組件,該行業(yè)通常使用的所有材料和復合材料。密集的非接觸式且與材料無關的測量阿里科納(Alicona)測量系統(tǒng)提供了表面功能以及將坐標測量系統(tǒng)集成到一個系統(tǒng)中的功能。結果,您的質量保證將變得更具成本效益,更易于執(zhí)行并更有效地交付結果。無磨損高效使用所有組件,包括運動軸,均無接觸運行。空氣軸承線性驅動軸可實現無磨損運行以及高精度,快速測量。這使μCMM成為生產中使用的理想選擇。SpecificationμCMM 產品規(guī)格 µCMM設備規(guī)格 量測范圍 310 x 310 x 310 mm 設備尺寸 approx. 960 x 1109 x 2288 mm 設備重量 approx. 1250 kg 工作溫度 +20°C to+25°C µCMM鏡頭規(guī)格 1500A 800A 400A 150A 80A 量測面積[mm] 2.63 x 2.63 1.32 x 1.32 0.66 x 0.66 0.26 x 0.26 0.13 x0.13 點間距離[μm] 1.53 0.76 0.44 0.18 0.09 工作距離[mm] 23.5 17.5 19 11 4.5 最小粗糙度檢測[μm] 0.6 0.15 0.075 0.03 0.015 最小R角檢測[μm] 10 5 3 2 1 µCMM鏡頭規(guī)格 1500A 800A 400A 150A 80A 量測面積[mm] 2.63 x 2.63 1.32 x 1.32 0.66 x 0.66 0.26 x 0.26 0.13 x0.13 點間距離[μm] 1.53 0.76 0.44 0.18 0.09 工作距離[mm] 23.5 17.5 19 11 4.5 最小粗糙度檢測[μm] 0.6 0.15 0.075 0.03 0.015 最小R角檢測[μm] 10 5 3 2 1 三維精度(ISO 10360-8) EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm|EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) µm ApplicationsμCMM 應用µCMM是同類產的純光學微坐標測量系統(tǒng)。用戶將觸覺坐標測量技術和光學表面測量的優(yōu)勢相結合,僅用一個傳感器即可測量組件的尺寸,位置,形狀和粗糙度。現在也可以光學測量大于90°的垂直表面。
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