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| 產地 | 國產 | 類型 | 高低溫試驗箱 |
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微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統，
是一種用于評估微波器件在不同條件下 的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實 際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環境，以加速器件的老化過程。
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統
·每顆器件的Vgs獨立控制
·實時監測每個試驗器件的Id、 Ig
·控制上、下電時序
·全過程試驗數據保存于硬盤中， 可輸出Excel
·試驗報表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統
測試標準
AEC-Q100 ·MIL-STD-750D ·GJB128 ·JEDEC等標準
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